PROY-NMX-R-18196-SCFI-2017: Nanotecnologías-Matriz de técnicas de medición para la caracterización de nano-objetos. - Normas Mexicanas (NMX) - Normatividad - VLEX 809422589

PROY-NMX-R-18196-SCFI-2017: Nanotecnologías-Matriz de técnicas de medición para la caracterización de nano-objetos.

 
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PROY-NMX-R-18196-SCFI-2017
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SECRETARÍA DE ECONOMÍA
DIRECCIÓN GENERAL DE NORMAS
PROYECTO DE NORMA MEXICANA
PROY-NMX-R-18196-SCFI-2017
NANOTECNOLOGÍAS MATRIZ DE TÉCNICAS
DE MEDICIÓN PARA LA CARACTERIZACIÓN DE
NANO-OBJETOS
Nanotechnologies Measurement technique matrix for the
characterization of nano-objects
PROY-NMX-R-18196-SCFI-2017
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Prefacio
Este Proyecto de Norma Mexicana NMX-R-18196-1-SCFI-2015 no es
equivalente con ninguna Norma Internacional por no existir Norma
Internacional sobre el tema tratado. No obstante, esta Norma Mexicana es
idéntica al Reporte Técnico ISO/TR 18196:2016 Nanotechnologies
Measurement technique matrix for the characterization of nano-objects.
En los casos en que se haya detectado poca claridad o aparentes incorrecciones
en el original, o se considere pertinente incluir información adicional, se inserta
una NOTA EXPLICATIVA NACIONAL la cual no tiene contraparte en el original.
Este Proyecto de Norma Mexicana fue elaborado por el Comité Técnico de
Normalización Nacional en Nanotecnologías.
En su elaboración participaron particularmente las empresas e instituciones
siguientes:
Centro de Investigación en Materiales Avanzados, S. C.
Centro Nacional de Metrología
Instituto Mexicano del Petróleo
Nano Coating Technologies, S. A. de C. V.
Universidad Aeronáutica en Querétaro
Universidad Juárez Autónoma de Tabasco
Universidad Politécnica de Santa Rosa Jáuregui
La Clave SINEC de esta NMX es SINEC-20190301172016911
PROY-NMX-R-18196-SCFI-2017
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Prefacio de la norma internacional
ISO (la Organización Internacional de Normalización) es una federación
mundial de organismos nacionales de normalización (organismos miembros de
la ISO). La preparación de las Normas Internacionales normalmente se realiza
a través de los comités técnicos de la ISO. Cada organismo miembro
interesado en un tema para el cual se haya establecido un comité técnico, tiene
el derecho de estar representado en ese comité. Las organizaciones
internacionales, públicas y privadas, en coordinación con la ISO, también
participan en sus trabajos. La ISO colabora estrechamente con la Comisión
Electrotécnica Internacional (IEC) en todas las materias de normalización
electrotécnica.
Los procedimientos para elaborar y proseguir el mantenimiento de este
documento se describen en la Parte 1 de las Directivas ISO/IEC. En particular
son relevantes los diferentes criterios de aprobación de los diferentes tipos de
documentos ISO. Este documento fue elaborado en apego a las reglas
editoriales de la Parte 2 de las Directivas ISO/IEC (véase
www.iso.org/directives).
Se llama la atención a la posibilidad de que algunos de los elementos de este
documento sean sujetos de derechos de patente. ISO no debe ser hecha
responsable de identificar tales derechos de patente. En su caso, los detalles
de los posibles patentes identificados durante el desarrollo del documento se
encuentran en la Introducción o en la lista ISO de patentes declaradas que
haya recibido (véase www.iso.org/patents).
En caso de que en este documento se use algún nombre comercial, debe
entenderse que se ha hecho para la conveniencia de los usuarios y de ninguna
manera debe entenderse como un respaldo mercadológico a dicho producto.
La explicación del significado de términos y expresiones ISO específicamente
relacionadas con la evaluación de la conformidad, y de la adhesión de ISO a
los principios de la Organización Mundial del Comercio respecto a las Barreras
cnicas al Comercio se encuentra en www.iso.org/iso/foreword.html.
El comité responsable de preparar este documento es el Comité Técnico
ISO/TC 229 Nanotecnologías.

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